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CheckSum
12KN离线测试系统
完整的ICT平台,能够测量复杂电路板 : 可达5,200测试点
双层探测技术可提供ICT测试和独立功能测试 : 可测板尺寸61 cm x 33.5cm
可選配: 功能测试, 数字I/O, 边界扫描, Checksum专有并行芯片刻录
ILS 3000在线测试系统
完整的在线式测试系统: 可达3,000测试点
可测板尺寸: 40 cm x 30cm
可选配: TestJet技术, 功能测试, 数字I/O, 边界扫描, Checksum专有并行芯片刻录
PDU桌上型测试系统
高性价比、高灵活性测试系统: 可达2,000测试点
可测板尺寸: 50cm x 40cm
可选配: TestJet技术, 功能测试, 数字I/O, 边界扫描, Checksum专有并行芯片刻录
CheckSum
12KN离线测试系统
完整的ICT平台,能够测量复杂电路板 : 可达5,200测试点 双层探测技术可提供ICT测试和独立功能测试 : 可测板尺寸61 cm x 33.5cm 可選配: 功能测试, 数字I/O, 边界扫描, Checksum专有并行芯片刻录
ILS 3000在线测试系统
完整的在线式测试系统: 可达3,000测试点 可测板尺寸: 40 cm x 30cm 可选配: TestJet技术, 功能测试, 数字I/O, 边界扫描, Checksum专有并行芯片刻录
PDU桌上型测试系统
高性价比、高灵活性测试系统: 可达2,000测试点 可测板尺寸: 50cm x 40cm 可选配: TestJet技术, 功能测试, 数字I/O, 边界扫描, Checksum专有并行芯片刻录
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